Innovator in elektronenmicroscopie maakt scannen van grote hoeveelheden complexe weefsels mogelijk

Delmic gelooft dat elektronenmicroscopen sneller moeten zijn om ze toegankelijker te maken voor onderzoekers en wetenschappers. Daarom lanceert Delmic FAST-EM, een SEM-systeem met meerdere elektronenbundels (multi-beam SEM) dat grote hoeveelheden data oplevert.

Sander den Hoedt, CEO Delmic: ”Dankzij de inzet van AI en het gebruik van meerdere elektronenbundels kan de scantijd aanzienlijk worden verkort. Dat is goed nieuws voor medisch specialisten, zoals pathologen, die grote hoeveelheden data moeten bekijken. Ons team is ervan overtuigd dat de snelheid van dit nieuwe platform bij zal dragen aan het behalen van baanbrekende resultaten in een breed scala van wetenschappelijk onderzoek.”

Het nu gelanceerde FAST-EM platform heeft in 2022 de Innovation Award ontvangen van het tijdschrift 'Microscopy Today'. Met de mogelijkheden om de workflow van EM met grote volumes te automatiseren en te versnellen, stuwt FAST-EM EM vooruit, waardoor beeldvorming op nanoschaal snel en toegankelijk wordt voor onderzoekers. Dit helpt hen om meer gefundeerde conclusies te trekken in hun onderzoek.

Om de impact van FAST-EM te demonstreren introduceert Delmic een videoreeks met deze innovatie. In maart 2023 zullen alle afleveringen van deze serie online beschikbaar zijn om wetenschappers te inspireren FAST-EM toe te passen en om hun onderzoek naar een hoger niveau te tillen.

Met de lancering van FAST-EM bevestigt Delmic haar reputatie als innovatieleider op het gebied van elektronenmicroscopie. Met producten gebaseerd op FAST-EM-technologie zullen wetenschappers over de hele wereld hun onderzoek kunnen versnellen. Door meer tests te kunnen doen in een korter tijdsbestek zal FAST-EM innovaties bieden voor een breed scala aan wetenschappers die afhankelijk zijn van elektronenmicroscoopdata. Dit biedt wetenschappers op allerlei gebieden nieuwe mogelijkheden voor onderzoek en geavanceerde studies.

Interessant artikel? Deel het: